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真理光學(xué)儀器有限公司專注于高端顆粒表征儀器的研發(fā)和制造,產(chǎn)品涵蓋激光(衍射法)粒度分析儀、動態(tài)光散射納米粒度及Zeta電位分析儀以及顆粒圖像分析儀,既有實驗室儀器,又有在線檢測系統(tǒng)。真理光學(xué)秉持“科學(xué)態(tài)度,工匠精神”,為用戶提供世界先進的高端產(chǎn)品和服務(wù)。
真理光學(xué)匯集了以張福根博士為代表的全國顆粒表征領(lǐng)域的頂尖人才。張福根博士現(xiàn)任本公司董事長兼首席科學(xué)家,還擔(dān)任全國顆粒表征及分檢與篩網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會副主任委員、天津大學(xué)兼職教授,曾擔(dān)任中國顆粒學(xué)會副理事長,同時也是“歐美克”字號公司的創(chuàng)始人。曾擔(dān)任英國某粒度儀器公司中國總經(jīng)理20余年的秦和義先生擔(dān)任本公司商務(wù)總經(jīng)理,中國顆粒學(xué)會青年理事潘林超博士、陳進博士擔(dān)綱公司的研發(fā)主力。
激光(衍射法)粒度儀雖然已得到廣泛應(yīng)用,但它并不完美,不論是科學(xué)基礎(chǔ)方面,還是技術(shù)方案方面。真理光學(xué)的團隊針對當(dāng)前市面上儀器存在的不足,展開了系統(tǒng)的理論研究和技術(shù)創(chuàng)新,發(fā)現(xiàn)了衍射光斑(愛里斑)的反常變化現(xiàn)象(ACAD),解釋了為什么不能測量3μm左右的聚苯乙烯微球,并給出了反常區(qū)(不能測量粒徑)的一般公式;研究了衍射儀器的測量上限和下限;研究了顆粒折射率偏差對測量結(jié)果的影響,發(fā)明了兩種根據(jù)散射光分布估算顆粒折射率的方法;提出了斜置梯形窗口技術(shù)方案(專利),解決了前向超大角測量盲區(qū)的問題,使衍射儀器的亞微米顆粒測量水平顯著提高;提出了統(tǒng)一的反演算法(專有技術(shù)),消除了不同計算模式給出不同結(jié)果的尷尬;設(shè)計出了高達20Kfps的超高速并行數(shù)據(jù)采樣電路,使干法測量的精度不亞于濕法測量,對高速噴霧場的測量(時間)分辨率也更高。
在納米粒度及Zeta電位儀方面,真理光學(xué)提出了比相位分析法(PALS)更先進的余弦擬合相位分析法(CF-PALS),用光纖分束取代了傳統(tǒng)的平板分束鏡分束,用光纖內(nèi)光干涉取代了自由空間干涉,使Zeta電位的測量重復(fù)性大幅度提高。

2025年全國顆粒測試學(xué)術(shù)會議今天在嶺南文化重鎮(zhèn)——佛山開幕。本次年會將以“創(chuàng)新測試技術(shù),驅(qū)動顆粒未來”為主題,設(shè)立特邀報告、專題研討、青年論壇、儀器展示及企業(yè)交流等多形式環(huán)節(jié),深入探討顆粒測試前沿技術(shù)、標(biāo)準(zhǔn)進展、跨領(lǐng)域應(yīng)用。

真理光學(xué)閃耀2025全國精密研磨拋光技術(shù)論壇,推廣納米粒度檢測技術(shù),助力產(chǎn)業(yè)升級

真理光學(xué)梯形專利技術(shù)解決亞微米測量盲區(qū)痛點,為砂磨制程提供數(shù)據(jù)支撐,提升陶瓷致密性與成品良率

第37屆"2025國際橡塑展"將于2025年4月15-18日在深圳國際會展中心(寶安)舉行,當(dāng)下正處于以AI大模型及人形機器人規(guī)模應(yīng)用,機器學(xué)習(xí)、視覺檢測、協(xié)作機器人等技術(shù)為核心的工業(yè)4.0加速階段落地,Chinaplas橡塑展位作為每年橡塑工業(yè)的方向標(biāo),你一定不能錯過

中國先進陶瓷材料、磁性材料及粉末冶金領(lǐng)域盛會--2025第十七屆中國國際先進陶瓷展覽會將于下周一在上海世博會展覽館H2館盛大開幕!作為中國高端激光粒度分析儀器的領(lǐng)軍企業(yè),珠海真理光學(xué)儀器有限公司將再次盛裝參展,攜多款創(chuàng)新產(chǎn)品亮相,助力高端制造領(lǐng)域的快速發(fā)展!

納米粒度儀是用于測量納米尺度顆粒粒徑分布及zeta電位的精密儀器,在材料科學(xué)、生物醫(yī)藥、精細化工及環(huán)境分析等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用

粒度分布是影響材料性能與應(yīng)用效果的關(guān)鍵指標(biāo),通過粒度測定儀可將這一隱性的物理特征轉(zhuǎn)化為可量化、可追溯的數(shù)據(jù),為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供精準(zhǔn)抓手。

材料質(zhì)量的核心,常藏于顆粒的微觀秩序中。粒度分布作為材料物理特性的基礎(chǔ)維度,直接影響其加工性能、功能表現(xiàn)與使用穩(wěn)定性

粒徑儀作為測量顆粒大小及其分布的核心儀器,在材料科學(xué)、制藥、化工、食品加工及環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域扮演著關(guān)鍵角色,其測量結(jié)果的準(zhǔn)確性直接影響產(chǎn)品質(zhì)量控制、工藝優(yōu)化及科學(xué)研究結(jié)論的可靠性

納米粒度儀作為現(xiàn)代材料表征的重要工具,在液體和粉末樣品的粒度分析領(lǐng)域展現(xiàn)出獨特的價值,為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供了精準(zhǔn)的顆粒度測量解決方案

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